ICのトラブルシューティングに用いられるメソッドの一つに、故障モデルを基に生み出されたテストパターンを活用した故障検出が挙げられます。この手法は、時間をかけずに高い検出精度を実現します。具体的な手法としては、スキャンテストとBIST(内蔵自己テスト)が一般的です。
構造化テストとは
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- BIST, IC, スキャンテスト, テストパターン, 故障検出
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