スキャンテストとは

一つの欠かすことのできない大規模論理ICのテスト法は、検査対象の回路内にフリップフロップを配置し、端子から順にスキャンしながら動作を監視することです。これにより、回路の短絡、開放、架橋、遅延などが自動的に検出可能となります。更に、テストパターンの生成が容易になるため、テスト容易化設計（DFT）の一環として広く活用されています。

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