スキャンテストとは

一つの欠かすことのできない大規模論理ICのテスト法は、検査対象の回路内にフリップフロップを配置し、端子から順にスキャンしながら動作を監視することです。これにより、回路の短絡、開放、架橋、遅延などが自動的に検出可能となります。更に、テストパターンの生成が容易になるため、テスト容易化設計（DFT）の一環として広く活用されています。

関連記事

  1. 個人情報保護法とは

  2. Androidとは

  3. クローンとは

  4. 損金経理とは

  5. 標準倉庫寄託約款とは

  6. 平均原価法とは

  7. CPAとは

  8. エキストラとは

  9. 型とは