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JTAGはデバイスおよびプリント回路基板の詳細な動作を検証するためのテスト規格です。本規格においては、デバイスの全外部入出力ピンが順にスキャンされ、テストデータの送受信が可能となります。各デバイスには、このテストを実施するための入出力端子や制御回路の設定が必要で、そのための規格が明確に規定されています。このJTAGテスト規格は1990年にIEEE1149.1の名で標準化されています。’