テスト容易化設計とは

大規模な論理回路に派生する問題として、故障検出の困難さや試験時間の長さが挙げられます。これを解決するための技術の一つが、IC内部でテストを実行する仕組みを導入するものです。その代表的な方法として、スキャンパス方式があります。これは全フリップフロップをシフトレジスタとして機能するように追加した回路を直列に接続する方式です。また、論理BISTなどの方法もあります。これらにより、故障検出率の向上と試験時間の短縮が可能となります。