CMOS回路製造の過程で生じる不具合を見つけ出すための方法。理想的なCMOS回路は停止状態では電源電流（Idd）が流れない特性を活かす方法で、IC内のロジックを切り替えつつ、リーク電流を計測し、故障の発見を実施する。’
